注：此TP-23早期頒布EIA RS-364
1.0 TP-23低等位（wèi）接觸電阻
2.0 目的
本方法（fǎ）是（shì）介紹一（yī）種在標準方法測量（liàng）一配套端子（zǐ），在絕緣層沒有被破壞或熔化的情況下的接觸電（diàn）阻。
3.0 樣品（pǐn）準備
3.1 測試樣品由一對配合的端子組成（chéng），如一個（gè）錫（xī）腳和一焊座﹐極性相反的相（xiàng）配套端子或印刷電（diàn）路板和它的配合端子。
3.2 用規格中所說明的電線按圖2A所示進行聯機﹐端子配合如圖2B所示﹒
3.3 測試樣品應組裝成能進行正常工作（zuò）的連接器﹐不能安裝成連接器的樣品不得以任何其它方法強行安裝，若強行安裝會影響相配端子內接觸（chù）麵的強力。
4.0 測（cè）試方法
4.1 測試儀器
    測試儀器包括﹕
4.1.1滿偏量程精（jīng）確至±2％或確切讀數精確至±10％的合適範圍的毫伏表。
4.1.2一個低等位回路具備傳遞和（hé）準（zhǔn）確測量最大電流100mA和最大開路電（diàn）位20 mV的能力。圖1所示的一種可行的回路（此回路輸出測試電流為1mA），對於（yú）交流測量﹐此頻率不超過2KHz﹒   
4.1.3測量可用直流或交流電進行﹐但（dàn）無論如何﹐應當控製直流測試。
4.2測試步驟（zhòu）
4.2.1連接測試樣品T1和T2。
4.2.2在測試回路正方向上加電壓﹐並紀錄電壓降包括電壓Vf和電流（liú）If的極性。
4.2.3在測試（shì）回（huí）路反（fǎn）方向上加電壓（yā）﹐並紀錄電壓降包括電壓Vr和電流Ir的極性。
4.2.4接觸電阻等於正反方向壓降的差的絕對值除以正向電流和反向電流絕對值（zhí）之和，公式如下﹕
              R＝|Vf－Vr |/（|If|+| Ir |）
其中﹕ R=接觸電阻 單位﹕奧姆
        Vf =正向壓降包括極性 單位﹕伏特（tè）
        Vr =反向（xiàng）壓降包括極性 單位﹕伏特
        If =正向測試電流    單位﹕安培
        Ir =反向測試電（diàn）流    單位﹕安培
4.2.5 預防措施
4.2.5.1測試前或測試期間﹐測試（shì）樣品加壓不得超過20mV。
4.2.5.2        導線總電（diàn）阻（包括接觸端和主要電阻）應不少於（yú）100mΩ。
4.2.5.3        在（zài）任何預先狀態和（hé）環境暴露之間低壓電阻測試完成前﹐不可以中斷端子接觸（chù）。
5.0 細節說明
    當按規格進行測試時,下列細節要被（bèi）說明﹕
（a） 被測樣品數目﹔
（b） 導線的類型和尺寸﹔
（c） 電阻的要求（qiú）﹔
（d） 尺寸Y－Y（見圖2A）
6.0 參考文件
數據窗體應包括﹕
（a）測試標題（tí）﹔
（b）樣品（pǐn）描述（shù）﹔
（c）所用測試儀器﹔
（d）測（cè）試步驟﹔
（e）評（píng）估和觀測（cè）﹔
（f）測試日期和操作者姓名﹔
（g）樣品分析。
本文地址：http://www.hnpyzjj.com/zixun/xyxw/1597.html轉載時請注明（míng）出處。